11 May Espesor barrera

Las radiaciones infrarrojas representan un método de medida para determinar el espesor de las capas con propiedad barrera de los films multicapa, obtenidas con materiales como, por ejemplo, EVOH y PA. El módulo de medida desarrollado por ELECTRONIC SYSTEMS con este objetivo está compuesto por un emisor y un receptor y está instalado en un escáner estándar de medida en modalidad de transmisión, individualmente o en combinación con otros dispositivos (por ejemplo sensores de rayos ? o X) con el objetivo de efectuar una lectura transversal de una capa barrera simultáneamente con el espesor/peso total.

El espesor de las capas individuales se determina sobre la base de diferentes niveles de absorción de los materiales de diferentes frecuencias del espectro infrarrojo. Esta tecnología permite realizar medidas simultáneas de varios materiales barrera presentes en la misma estructura, también en ausencia de absorciones unívocas.
El sensor puede analizar un máximo de 10 longitudes de onda, seleccionadas en base a las características del material y gama de espesores a medir. Un microprocesador dedicado procede a una preelaboración de las medidas reveladas por el sensor.

El sensor puede personalizarse según las exigencias específicas impuestas por la aplicación.

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